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顯微熔點儀(數顯)HCSGW X-4

簡要描(miao)述:顯微(wei)熔點儀(數顯)

  • 產品型號:HCSGW X-4
  • 廠(chang)商性質:經銷商
  • 更(geng)新時(shi)間:2017-07-14
  • 訪  問(wen)  量:1115

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詳細介紹

詳細說明:

測定物質的熔點。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。

性能指標

熔點測量范圍:室溫至320℃

測量重復性:±1℃(在<200℃時)
          ±2℃(在200~300℃時)

光學放大倍數:目鏡10X;物境4X


 

是否已審核:

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經營地址:成都市金牛區洞子口路168號源上金府3棟1單元1703號
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:,87324090,
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